| 杭州藏漢科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 粉末壓片機(jī)，紅外壓片機(jī)，壓片模具、紅外烘烤箱、溴化鉀粉末，光學(xué)平臺(tái)，精密光學(xué)平臺(tái)，單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，光學(xué)平板，邁克爾遜干涉儀，色度測(cè)量實(shí)驗(yàn)裝置，黑體實(shí)驗(yàn)裝置，紫外燈,掌上離心機(jī) |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 粉末壓片機(jī)，紅外壓片機(jī)，壓片模具、紅外烘烤箱、溴化鉀粉末，光學(xué)平臺(tái)，精密光學(xué)平臺(tái)，單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，光學(xué)平板，邁克爾遜干涉儀，色度測(cè)量實(shí)驗(yàn)裝置，黑體實(shí)驗(yàn)裝置，紫外燈,掌上離心機(jī) |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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SB100A/20A四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)單介紹：SB100A/20A四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x SB100A/20A是SB100A/20（及SB100A/2）的升級(jí)版，其為用戶提供了使用SB100A/20進(jìn)行四探針測(cè)試及實(shí)驗(yàn)的配套軟件，可運(yùn)行于PC機(jī)上，能兼容運(yùn)行在Winxp和Win7系統(tǒng)中，用于自動(dòng)獲取實(shí)驗(yàn)臺(tái)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并根據(jù)條件生成曲線和報(bào)表，輔助實(shí)驗(yàn)人員自動(dòng)完成實(shí)驗(yàn)，直觀的分析數(shù)據(jù)，獲得實(shí)驗(yàn)結(jié)論，保存實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：天津市 更新時(shí)間：2018-05-15 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：天津市 更新時(shí)間：2018-05-15 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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RTS-9型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：RTS-9型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：天津市 更新時(shí)間：2018-05-15 |
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RTS-4型四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：RTS-4型四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：天津市 更新時(shí)間：2018-05-15 |
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RTS-8型四探針測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：RTS-8型四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：天津市 更新時(shí)間：2018-05-15 |
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